年度 92
计画类别 科技部
计画名称 平衡计分卡各构面相关性及其影响因素之整体研究—多种研究方法之运用（2/3）
参与人 吴安妮
职称/担任之工作 计画主持人
计画期间 2003.08 ~ 2004.07
补助/委讬或合作机构 国科会