年度 106
计画类别 科技部
计画名称 运用极端一致性损失函数来检定期望分位数及分位数预测之精确性(1/2)
参与人 颜佑铭,颜佑铭
职称/担任之工作 计画主持人
计画期间 2017.08 ~ 2019.10
补助/委讬或合作机构 国科会